TWS高通量測試方案
可實(shí)現(xiàn)一托四,OTA測試,分時(shí)測試四個(gè)被測件,不會(huì)互相干擾,可以極大節(jié)省測試時(shí)間成本和測試成本。
痛點(diǎn)問題
對(duì)于生產(chǎn)商而言,傳統(tǒng)的測試方案大多是有乒乓+多個(gè)屏蔽箱的方式測試,增加了測試成本和場地面積,一旦產(chǎn)品數(shù)量眾多每次測試還需要人工進(jìn)行輪換被測件依次進(jìn)行測試,無疑將會(huì)耗費(fèi)大量時(shí)間成本。
推薦方案
TWS高通量測試方案——領(lǐng)先行業(yè)技術(shù)實(shí)現(xiàn)1托4:儀表可以支持1托多拼板測試(至多可支持對(duì)四個(gè)被測件分時(shí)測試),且能夠保障四個(gè)被測件與單個(gè)被測件測量數(shù)據(jù)基本相差無誤,減少人工輪換被測件的次數(shù),節(jié)約時(shí)間成本,適用于大規(guī)模量產(chǎn)測試。
測試方法
(1)標(biāo)記4個(gè)被測件為DUT1,DUT2,DUT3,DUT4,使用網(wǎng)線連接上位機(jī),射頻線分別連接儀表、屏蔽箱。
(2)將4個(gè)被測件按對(duì)應(yīng)位置放入屏蔽箱中,DUT1位置不變,在PC端調(diào)試進(jìn)入測試模式,啟動(dòng)測試依次檢測該4個(gè)被測件的輸出功率、靈敏度、調(diào)制特性、初始載波頻率容限偏置和頻漂等指標(biāo)數(shù)據(jù)。
(3)匯總數(shù)據(jù),對(duì)比并分析。
測試時(shí)間 | ||||
被測件 | DUT1 | DUT2 | DUT3 | DUT4 |
測試項(xiàng) | 輸出功率、靈敏度、調(diào)制特性、初始載波頻率容限、頻偏和頻漂 | |||
測試信道 | Channel 0,39,78 | |||
測試單個(gè)DUT時(shí)間 | 14s | 14s | 14s | 14s |
測試總時(shí)間 | 52 s |