BTE100藍(lán)牙綜合測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱“BTE100”）是由深圳市中承科技有限公司自主開發(fā)的擁有完整藍(lán)牙協(xié)議棧的全新高端藍(lán)牙信令測(cè)試設(shè)備。一般廣泛運(yùn)用于測(cè)試智能手機(jī)、電腦、智能音響、TWS耳機(jī)及其他包含藍(lán)牙功能產(chǎn)品（含經(jīng)典藍(lán)牙以及LE藍(lán)牙）的無線性能指標(biāo)。包括但不僅限于生產(chǎn)、研發(fā)、測(cè)試及認(rèn)證等環(huán)節(jié)，同時(shí)也適用于藍(lán)牙協(xié)議級(jí)測(cè)試需求定制開發(fā)的硬件平臺(tái)。

圖1.中承科技BTE100--機(jī)型圖

  （1）產(chǎn)品特性

　　·支持TWS高通量測(cè)試；

　　·支持經(jīng)典藍(lán)牙（BR/EDR）測(cè)試

　　·支持CW校準(zhǔn)與測(cè)試，傳導(dǎo)或空口測(cè)試；

　　·支持低功耗藍(lán)牙（BLE4.2/5.0/5.1/5.2）測(cè)試；

　　·支持藍(lán)牙吞吐量測(cè)試且擁有信令射頻測(cè)試模塊；

　　·支持TestMode、ParingMode（競(jìng)品分析）、BLE-DTM和BLE信令測(cè)試；

　　二、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

　?。?）藍(lán)牙吞吐量測(cè)試

　　對(duì)于生產(chǎn)商而言常規(guī)的藍(lán)牙通用測(cè)試只能測(cè)試產(chǎn)品的功率、頻偏、調(diào)制特性、接收靈敏度等測(cè)試指標(biāo)；但并不能解決大多數(shù)藍(lán)牙產(chǎn)品存在播放音樂時(shí)產(chǎn)生的斷流問題，所以現(xiàn)在急需可以對(duì)藍(lán)牙產(chǎn)品進(jìn)行吞吐量測(cè)試的儀器儀表和測(cè)試方案來解決這一問題。

　　BTE100是目前行業(yè)內(nèi)少數(shù)幾家可支持吞吐量測(cè)試功能的藍(lán)牙協(xié)議測(cè)試系統(tǒng)的代表機(jī)型之一；不僅可以測(cè)試藍(lán)牙產(chǎn)品的功率、頻偏、調(diào)制、接收靈敏度等測(cè)試指標(biāo)；還可以對(duì)藍(lán)牙產(chǎn)品進(jìn)行吞吐量測(cè)試，幫助生產(chǎn)商解決大多數(shù)藍(lán)牙產(chǎn)品存在播放音樂時(shí)產(chǎn)生的斷流問題。

　?。?）Paringmode競(jìng)品分析利器

　　BTE100其測(cè)試系統(tǒng)滿足競(jìng)品分析的功能，被測(cè)件無需進(jìn)入DUT模式，可快速測(cè)試各項(xiàng)射頻指標(biāo)；顯著提高測(cè)試頻率，降低測(cè)試門檻；更加接近產(chǎn)品實(shí)際使用狀態(tài)，顯著降低測(cè)試成本；且可以在Paringmode下測(cè)試DUT最大發(fā)射功率，讓數(shù)據(jù)更精準(zhǔn)。

　　（3）BLE完全信令測(cè)試

　　BTE100已實(shí)現(xiàn)采用完全BLE信令測(cè)試方法，無需進(jìn)入DTM模式即可測(cè)量被測(cè)件的功率、頻率、調(diào)制解調(diào)、接收靈敏度、吞吐量等各項(xiàng)射頻指標(biāo)。能夠妥善解決行業(yè)中被測(cè)件無法接插USB線的尷尬和USB線在測(cè)試中因?yàn)椴灏芜^程而產(chǎn)生的時(shí)間成本問題以及產(chǎn)線上USB線消耗材料，做到提高測(cè)試效率，降低測(cè)試門檻，節(jié)約時(shí)間成本，讓測(cè)試更便捷。

圖2.BLE信令測(cè)試方案--示意圖

　　（4）領(lǐng)先行業(yè)多終端空口測(cè)試方案

　　BTE100具有領(lǐng)先行業(yè)技術(shù)實(shí)現(xiàn)空口1托4，測(cè)試系統(tǒng)可對(duì)多臺(tái)終端同時(shí)進(jìn)行空口測(cè)試；藍(lán)牙板子可以支持1托多拼板測(cè)試（至多可支持對(duì)四臺(tái)終端同時(shí)測(cè)試即1托4方案），且能夠保障四臺(tái)被測(cè)件數(shù)據(jù)與單獨(dú)測(cè)量數(shù)據(jù)基本相差無誤，適用于生產(chǎn)線大規(guī)?；慨a(chǎn)測(cè)試。實(shí)現(xiàn)做到提高行業(yè)測(cè)試效率，節(jié)約時(shí)間成本，為研發(fā)測(cè)試提供極大的便利。

圖3.多終端空口測(cè)試方案（4UP）--示意圖

　　三、測(cè)試項(xiàng)展示

　?。?）經(jīng)典藍(lán)牙（BR）

　?。?）經(jīng)典藍(lán)牙（EDR）

　　（3）低功耗藍(lán)牙（BLE4.2/5.0/5.1/5.2）